ОБЗОР МЕТОДОВ КОМПЬЮТЕРНОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ СИЛОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ В УСЛОВИЯХ ВОЗДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОГО РАЗРЯДА

Як цитувати

Алексеев , В., Пискун , Г., & Сыс , А. (2021). ОБЗОР МЕТОДОВ КОМПЬЮТЕРНОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ СИЛОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ В УСЛОВИЯХ ВОЗДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОГО РАЗРЯДА. Збірник наукових праць SCIENTIA. вилучено із https://ojs.ukrlogos.in.ua/index.php/scientia/article/view/15182

Посилання

The Impact of ESD on Microcontrollers / G.A. Piskun, V.F. Alexeev, S.M. Avakov, V.E. Matyushkov, D.S. Titko; edited by PhD, Aassociate professor V.F. Alexeev. ‒ Minsk: Kolorgrad, 2018. ‒ 184 p.

Алексеев, В.Ф. Испытание электронных средств по моделям воздействия электростатического разряда / В.Ф. Алексеев, Г.А. Пискун, Н.А. Панасюк // Сучасні виклики і актуальні проблеми науки, освіти та виробництва: міжгалузеві диспути: матеріали XV міжнародної науково-практичної інтернет-конференції, Київ, 29 квітня 2021 р. / Наукова платформа Open Science Laboratory. – Київ, 2021. ‒ С.284‒293.

Алексеев, В.Ф. Моделирование тепловых полей электронных систем в среде ANSYS / В.Ф. Алексеев, Д.В. Лихачевский, Г.А. Пискун // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня: сб. материалов VI Междунар. науч.-практ. конф., Минск, 20-21 мая 2020 года: в 3 ч. Ч. 3 / редкол.: В. А. Богуш [и др.]. – Минск: Бестпринт, 2020. – С. 282 – 286.

Моделирование джоулева нагрева в среде COMSOL Multiphysics / В.Ф. Алексеев и др. // Доклады БГУИР. ‒ 2018. − № 7 (117). ‒ С. 90 - 91.

Программное обеспечение инженерного моделирования физических процессов. Лабораторный практикум. В 2 ч. Ч.1: Тепловые режимы работы и защиты конструкций РЭС от механических воздействий: пособие / В.Ф. Алексеев, И.Н. Богатко, Г.А. Пискун. – Минск: БГУИР, 2017. – 124 с.

Алексеев, В.Ф. Методика численного моделирования тепловых процессов в микроэлектронных структурах / В.Ф. Алексеев, Д.В. Лихачевский, Г.А. Пискун // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня: сб. материалов VI Междунар. науч.-практ. конф., Минск, 20-21 мая 2020 года: в 3 ч. Ч.3 / редкол.: В. А. Богуш [и др.]. – Минск: Бестпринт, 2020. – С. 34 – 37.

Алексеев, В.Ф. Воздействие разрядов статического электричества на полупроводниковые структуры и интегральные схемы / В.Ф. Алексеев, Г.А. Пискун, А.А. Лисовский // Danish Scientific Journal. – 2018. – Vol.1, № 19. – Pp. 31–41.

Лаборатория информатики и параллельных вычислений // COMSOL graal.ens-lyon.fr [Electronic resource]. – 2010. – Mode of access: http://graal.ens-lyon.fr/MUMPS – Date of access: 17.09.2021.

Глушко, А.А. Моделирование технологии изготовления субмикронных КМОП СБИС с помощью систем TCAD / А.А. Глушко, И.А. Родионов, В.В. Макарчук // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. 2007. − №4. − С.32-34.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.


| Переглядів: 1 | |